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混凝土电阻率测试仪以达到高精度测试微区的目标
发布日期:2015-10-27      浏览次数:770
    混凝土电阻率测试仪不仅从测量系统的本身具有使测试误差达到zui小化的结构保证,而且可以借助于图像识别和伺服电机控制每个探针的调整(在调整时,需要利用控制 垂直运动的伺服电机,先抬起探针,调整之后再通过软着陆的方式放下探针),保证探针测试位置的准确;另外通过控制纵横向伺服电机实现平台的纵横向移动,使 硅片位置调整自动化,并且能够做到严格控制步进的距离,混凝土电阻率测试仪可以实现zui小步距0.25μm,这样就可以很方便地进行大样片的检测,以达到高精度测试微区的目标,并且可以极大地提高测试速度。
  混凝土电阻率测试仪根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。混凝土电阻率测试仪换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头,也可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻。
  混凝土电阻率测试仪采用四探针测试技术方法分为直线四探针法和方形四探针法。方形四探针法又分为竖直四探针法和斜置四探针法。方形四探针法具有测量较小微区的优点,可以测试样品 的不均匀性,微区及微样品薄层电阻的测量多采用此方法。四探针法按发明人又分为Perloff法、Rymaszewski法、范德堡法、改进的范德堡法 等。值得提出的是每种方法都对被测样品的厚度和大小有一定的要求,当不满足条件时,必须考虑边缘效应和厚度效应的修正问题。混凝土电阻率测试仪具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
  混凝土电阻率测试仪利用Rymaszewski法方形四探针测试原理研制出检测硅芯片薄层电阻的方形四探针测试仪。该仪器利用斜置的探针,通过摄像头,借助于计算机显示器观察探针测试位置,用伺服电机控制样品平台和探针的移动,实现自动调整与测试硅芯片的电阻率均匀性。
  混凝土电阻率测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。主机主要由数控恒流源,高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成,自动转换量程。仪器所有参数设定、功能转换全部采用一旋钮输入;具有零位、满度自校功能;全自动转换量程;测试结果由数字表头直接显示。混凝土电阻率测试仪采用可充电电池供电,适合手持式变动场合操作使用!
 

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